测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:02-14 2023 来自:祥宇精密
一.用途及特点
三坐标测量仪的测头是用来探测被测物体表面坐标和形状信息的部件。测头通常由接触式和非接触式两种类型。接触式测头通过触碰被测物体表面来获取坐标和形状信息,适用于较硬、表面光洁度较高的物体。非接触式测头则通过光学或激光等方式获取被测物体表面的坐标和形状信息,适用于表面较为脆弱、光洁度不高的物体。三坐标测量仪的测头具有高精度、高稳定性、高重复性等特点,可用于精密测量、质量控制等领域。
二.材质
三坐标测量仪的测头材质一般是高强度合金钢、陶瓷、硬质合金等材料。这些材料具有高硬度、高强度、高耐磨性等特点,能够保证测头的精度和寿命。此外,对于接触式测头来说,测头球杆的材质也很重要,一般采用不锈钢、陶瓷、碳纤维等材质,以保证测头球杆的刚性和耐磨性。
400-801-9255